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行業資訊

涂層測厚儀探頭的選擇

更新時間:2018-06-05

       涂層測厚儀探頭選擇:

     A.磁性法:F型測頭(只對導磁物體生效)

     當測尖與覆蓋層接觸,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

    B.渦流法:N型測頭

   利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的硬度。